Titik uji: Perbedaan antara revisi
Konten dihapus Konten ditambahkan
KaptenYusuf (bicara | kontrib) |
k clean up, added underlinked tag |
||
| (Satu revisi perantara oleh satu pengguna lainnya tidak ditampilkan) | |||
Baris 1:
{{Underlinked|date=Januari 2023}}
[[Berkas:Usbkey_internals_edit.jpg|pra=https://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/2/23/Usbkey_internals_edit.jpg/220px-Usbkey_internals_edit.jpg|jmpl|Dua baris lubang ditandai pada noomor 3 adalah titik uji yang digunakan dalam pembuatan [[Diska lepas USB|kunci memori USB]].]]
'''Titik uji''' (''test point'') adalah lokasi di dalam [[rangkaian elektronik]] yang digunakan untuk memantau keadaan sirkuit atau untuk menyuntikkan sinyal uji. Titik uji memiliki dua kegunaan utama:
Baris 8 ⟶ 10:
== Ponsel elektronik ==
Dalam dunia ponsel atau handphone test poin memiliki pengertian dasar yang hampir sama pada modul elektronika, tetapi dalam dunia teknisi ponsel lebih familiar pengertian test point itu ada 2 jenis, yaitu Hard Test Point dan Soft Test Point.<ref name=":0">{{Cite web|last=Haikal|first=Mustofa|date=2020|title=Apa Itu Test Point ? Lalu Apa Fungsinya|url=https://www.mhtekno.com/2020/04/apa-itu-test-point-lalu-apa-fungsinya.html|access-date=29 Oktober 2022}}</ref>
=== Hard Test Point ===
Hard Test Point adalah test yang dilakukan dengan cara penekanan hardware / jalur tertentu, bisa dengan membuat jumper point maupun dengan memotong jalur pada point tertentu, tujuan utamanya adalah melewati proteksi bootcore.<ref name=":0" />
=== Soft Test Point ===
Soft Test Point adalah melakukan tes dengan menggunakan algoritma yang tertanam dalam sebuah program yang fungsinya mengunci akses perubahan bootcore atau checksum loader IC Flash atau EPROM, test poin ini memiliki tujuan yang sama dengan hard test point, tetapi biasanya digunakan pada ic bga / microchip yang kaki ic / bga ballnya di tutup dengan lem pelindung, sehingga tidak memungkinkan untuk melakukan hard test point.<ref name=":0" />
== Referensi ==
[[Kategori:Manufaktur elektronik]]
| |||