Kristalografi: Perbedaan antara revisi

Konten dihapus Konten ditambahkan
Agungsn (bicara | kontrib)
kTidak ada ringkasan suntingan
Tag: Suntingan perangkat seluler Suntingan peramban seluler Suntingan seluler lanjutan
k Bot: Perubahan kosmetika
Baris 6:
Metode kristalografis saat ini tergantung kepada analisis pola hamburan yang muncul dari sampel yang dibidik oleh berkas sinar tertentu. Berkas tersebut tidak mesti selalu [[radiasi elektromagnetik]], meskipun sinar X merupakan pilihan yang paling umum. Untuk beberapa keperluan [[elektron]] atau [[neutron]] juga digunakan, yang dimungkinkan karena sifat [[gelombang]] partikel tersebut. Para ahli kristalografi sering menyatakan secara eksplisit jenis berkas yang digunakan.
 
Ketiga jenis radiasi ini (sinar X, elektron, dan neutron) berinteraksi dengan spesimen dengan cara yang berbeda. Sinar X berinteraksi dengan agihan (distribusi) spasial [[elektron valensi]], sementara elektron merupakan partikel bermuatan, dan karena itu merasakan agihan total [[inti atom]] dan elektron yang mengelilinginya. Neutron dihamburkan oleh inti atom lewat [[gaya nuklir kuat]], dan tambahan lagi, [[momen magnetik]] neutron tidaklah nol. Karena itu neutron juga dihamburkan oleh [[medan magnet]]. Bila neutron dihamburkan oleh bahan yang mengandung [[hidrogen]], berkas tersebut menghasilkan pola difraksi dengan tingkat [[derau]] tinggi. Karena bentuk-bentuk interaksi yang berbeda ini, ketiga jenis radiasi tersebut cocok untuk studi kristalografi berbeda-beda.
 
== Pranala luar ==