Titik uji: Perbedaan antara revisi
Konten dihapus Konten ditambahkan
KaptenYusuf (bicara | kontrib) |
k clean up, added underlinked tag |
||
Baris 1:
{{Underlinked|date=Januari 2023}}
[[Berkas:Usbkey_internals_edit.jpg|pra=https://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/2/23/Usbkey_internals_edit.jpg/220px-Usbkey_internals_edit.jpg|jmpl|Dua baris lubang ditandai pada noomor 3 adalah titik uji yang digunakan dalam pembuatan [[Diska lepas USB|kunci memori USB]].]]
'''Titik uji''' (''test point'') adalah lokasi di dalam [[rangkaian elektronik]] yang digunakan untuk memantau keadaan sirkuit atau untuk menyuntikkan sinyal uji. Titik uji memiliki dua kegunaan utama:
Baris 11 ⟶ 13:
=== Hard Test Point ===
Hard Test Point adalah test yang dilakukan dengan cara penekanan hardware / jalur tertentu, bisa dengan membuat jumper point maupun dengan memotong jalur pada point tertentu, tujuan utamanya adalah melewati proteksi bootcore.<ref name=":0" />
=== Soft Test Point ===
Baris 17 ⟶ 19:
== Referensi ==
[[Kategori:Manufaktur elektronik]]
| |||