Mikroskop: Perbedaan antara revisi

Dua jenis utama mikroskop elektron adalah mikroskop elektron transmisi [https://en.wiki-indonesia.club/wiki/Transmission_electron_microscopy (Transmission Electron Microscope (TEM))] dan mikroskop elektron pemindaian ([https://en.wiki-indonesia.club/wiki/Scanning_electron_microscope Scanning Electron Microscope (SEM)]). Keduanya memiliki serangkaian lensa [[elektromagnetik]] dan [[elektrostatik]] untuk memfokuskan berkas elektron berenergi tinggi pada sampel.

Mikroskop elektron pemindaian ini bekerja dengan sinar elektron (bahasa Inggris: [https://en.wiki-indonesia.club/wiki/Electron-beam_technology electron beam]) yang dihasilkan secara termionik dari sumber elektron (bahasa Inggris: [https://en.wiki-indonesia.club/wiki/Electron_gun electron gun]), biasanya menggunakan [[katoda]] dilengkapi dengan filamen [[tungsten]]. Sinar elektron, dengan energi antara 0.2 keV hingga 40 keV, difokuskan melalui dua lensa kondensor sehingga membentuk spot dengan diameter antara 0.4 &nbsp;nm hingga 5 &nbsp;nm. Sinar yang melewati lensa kondensor kemudian diteruskan melalui scanning coils atau pasangan piring deflektor pada kolom elektron, pada bagian akhir lensa (lensa objektif). Deflektor tersebut mengarahkan sinar pada sumbu x dan y, untuk memindai sebuah area pada permukaan sampel. Selanjutnya sinar tersebut diteruskan pada spesimen yang diatur miring pada pencekamnya (sample holder). Interaksi antara sumber elektron dengan sampel menghasilkan elektron sekunder ([https://en.wiki-indonesia.club/wiki/Secondary_electrons secondary electron]), diemisikan oleh atom-atom yang tereksitasi oleh sinar elektron, dan dideteksi menggunakan detektor elektron sekunder (Everhart-Thornley detektor). Berdasarkan posisi dan intensitas elektron sekunder yang terdeteksi, gambar atau projeksi sampel yang sedang dipelajari dapat ditampilkan pada layar [[monitor]].<ref>{{Cite journal|last=Respati, S.M.D.|first=|date=2008|title=Macam-Macam Mikroskop dan Penggunaannya|url=https://media.neliti.com/media/publications/138351-ID-none.pdf|journal=Momentum|volume=4|issue=2|pages=42-43|doi=}}</ref>

Dalam penggunaan mikroskop transmisi elektron, elektron melewati sampel, yang analog dengan mikroskop optik dasar. Proses ini membutuhkan persiapan sampel yang sangat hati-hati, karena elektron tersebar kuat pada sebagian besar bahan. Sampel juga harus sangat tipis (di bawah 100 &nbsp;nm) agar elektron dapat menembus sampel tersebut.

Hal yang harus dilakukan pertama kali saat menggunakan mikrokop adalah meletakkannya di meja pengamatan. Setelah itu, pasang lensa okuler dengan kekuatan pembesaran lemah yakni 5× pembesaran. Kemudian, putar makrometer ke arah belakang agar posisi badan mikroskop condong ke atas.

Langkah selanjutnya adalah mengatur cahaya pada kondensor dan diafragma dengan cara menaikkan kondensor setinggi mungkin serta membuka diafragma selebar mungkin. Kemudian atur medan pandang dengan memutar cermin. Setelah terpasang dengan baik, pasanglah preparat di meja mikroskop.

*